礦石檢測(cè)儀器 IP65防護(hù)等級(jí) 礦物分析儀

礦石檢測(cè)儀器 IP65防護(hù)等級(jí) 礦物分析儀介紹

貴金屬礦檢測(cè)的核心痛點(diǎn)

1、含量極低：

巖金礦：Au常為1-10 g/t（≈1-10 ppm）

砂金礦：可能低至0.1 g/t

鉑族元素（Pt、Pd等）：多低于1 ppm

2、干擾因素多：

共生礦物（如黃鐵礦包裹金）

基體效應(yīng)（銅銀共生礦中的信號(hào)重疊）

礦石檢測(cè)儀器 IP65防護(hù)等級(jí) 礦物分析儀 手持式XRF光譜儀野外快速篩查金礦（Au）、銀礦（Ag）等，檢測(cè)限通常為5~50 ppm。無(wú)法直接檢測(cè)鉑族元素（如Pt、Pd需高性能型號(hào)）。便攜、無(wú)損、速度快（10秒/點(diǎn)）。

操作避坑指南

1、樣品制備：

XRF檢測(cè)面需打磨至400目以上

避免使用含鉛拋光劑（干擾Au信號(hào)）

2、校準(zhǔn)驗(yàn)證：

每日用標(biāo)樣（如GSA-8A金礦標(biāo)樣）校準(zhǔn)

當(dāng)檢測(cè)值接近設(shè)備檢出下限，必須實(shí)驗(yàn)室復(fù)檢

3、數(shù)據(jù)解讀：

手持XRF的"Au"峰值需排除Hg干擾（常見(jiàn)于銻金礦）

典型應(yīng)用場(chǎng)景

1、礦產(chǎn)勘探：快速圈定礦化帶，識(shí)別礦石品位（如銅、鐵、鋅等）。

2、開(kāi)采與選礦：實(shí)時(shí)監(jiān)控礦石品位，優(yōu)化分選和冶煉流程。

3、環(huán)保與回收：檢測(cè)尾礦有害元素（如鉛、砷），或電子廢棄物中的金屬含量。

4、學(xué)術(shù)研究：地質(zhì)調(diào)查、礦床成因研究等。

注意事項(xiàng)

1、樣品要求：表面平整（可配備研磨工具），避免潮濕或鍍層干擾。

2、安全防護(hù)：XRF儀器需避免直射人體，符合輻射安全標(biāo)準(zhǔn)（如FDA 21 CFR）。

3、校準(zhǔn)維護(hù)：定期使用標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn)，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。

手持礦石分析儀顯著提升了野外工作效率，降低了實(shí)驗(yàn)室送樣成本，是現(xiàn)代地質(zhì)和礦業(yè)領(lǐng)域的優(yōu)選工具。選擇時(shí)需根據(jù)目標(biāo)元素、檢測(cè)精度及環(huán)境條件綜合評(píng)估。